ئېكىس نۇرى دىففراكسىيىسى

X衍射分析法 Xyǎnshèfēnxīfǎ كرىستاللانغان ماددىلارنىڭ بوشلۇقتىكى تۈزۈلۈشىگە قارىتا تاق رەڭلىك X - نۇرىدىن پايدىلىنىپ ئانالىز قىلىپ ئېنىقلاش ئۇسۇلىدۇر. ئۇنىڭ پرىنسىپى ئاساسەن: تاق رەڭلىك X - نۇرى (دولقۇن ئۇزۇنلۇقى 1°A بولۇپ، مولېكۇلىدىكى ئاتوملارنىڭ ئارىلىقىغا توغرا كېلىدۇ) كرىستالدىكى ئاتومنىڭ سىرتقى قەۋىتىدىن ئۆتكەندە ئەكىس تەسىرلىك دولقۇن ھاسىل بولىدۇ، ئەكس تەسىرلىك بۇ دولقۇنلارنىڭ قوشۇلۇپ قاتلىنىشىدىن دىففراكسىيە نۇرى شەكىللىنىدۇ. بۇ دىففراكسىيە نۇرىنىڭ كۈچى ۋە يۆنىلىشى، ئەۋرىشكىنىڭ كرىستال پەنجىرىسىدىكى ئاتوملارنىڭ جايلىشىشى ۋە كرىستال پەنجىرىسىدىكىلەرنىڭ چوڭ - كىچىكلىكى، شەكلى بىلەن مۇناسىۋەتلىك بولىدۇ. ئېمۇلسىيىسىمان پلاستىنكىنىڭ نۇر سېزىپ خاتىرىلىشىدىن پايدىلىنىپ مۇرەككەپ دىففراكسىيە سخېمىسىغا ئېرىشكىلى بولىدۇ، دىففراكسىيە سخېمىسىدىكى دىففراكسىيە نۇقتىلىرنىڭ ئورنى ۋە كۈچىگە ئاساسەن، خىمىيىلىك ئانالىز قىلىش نەتىجىسىدىن پايدىلىنىپ، كرىستالدىكى ئاتوملارنىڭ بوشلۇقتىكى جايلىشىشىنى ئېنىقلىغىلى ۋە ھېسابلاپ چىققىلى بولىدۇ، ئاندىن كېيىن كرىستالنىڭ بوشلۇقتىكى تۈزۈلۈشى بەلگىلىنىدۇ. X - نۇرى دىففراكسىيىسى بىئو چوڭ مولېكۇلىلارنىڭ تۈزۈلۈشىنى ئېنىقلاشتىكى مۇھىم ئۇسۇلدۇر.